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測量根系深度的新方法可能使作物更具韌性

2024/06/16 @國際

摘要

美國賓州州立大學研發了名為LEADER新的方法,可以透過葉片觀測根的深度,藉此更容易培育深根植物。

示意圖

測量根系深度的新方法可能使作物更具韌性

  氣候變遷加劇了全球暖化與乾旱的現象,雖然大氣中的碳會導致暖化,但若將它存於土壤中就可以使土壤肥沃,帶來好處,而深根植物就具有將碳深埋於土壤的作用。

  當植物透過行光合作用獲得碳時,會將碳儲存於土壤中,當植物根系越深,意味著可將碳埋於更深處的土壤中,使碳在土壤停留時間加長。美國能源部估計,僅在美國種植深根植物就能夠抵銷多年的碳排放量。但要培育深根植物需觀察成千上萬株植物,若要將它們一一挖出觀察既花錢又費時,因此美國賓州州立大學(Pennsylvania State University)研發了一項名為LEADER(Leaf Element Accumulation from DEep Roots) 的新方法。LEADER技術透過X射線螢光光譜掃描葉片來準確估算玉米根系深度,它可以在根深度最深的地方做出準確的分類,玉米生長根系會穿過不同的土壤層,吸收的元素會被輸送到嫩芽,藉此可以透過X射線螢光快速、輕鬆地檢測葉片組織中的元素含量,作為根系在土壤中位置的指標。除了利用土壤中天然的元素來準確估計根的深度,研究人員還透過在指定深度注入鍶(strontium)來作為LEADER分析的示蹤劑(tracer),確認了在葉子中檢測到的鍶與植物根部的深度密切相關。

  透過研究可以認知到根系吸收到的元素與它們生長的深度相關,而葉片中的元素又與根系吸收到的元素相關,因此可以透過葉片分析來得知根系的深度,藉此作為培育深根植物的工具。【延伸閱讀】- 【增匯】樹木多樣性可能會增加森林土壤中碳與氮的儲存量

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